Cognex lança In-Sight 1750 para identificar wafers na produção

A Cognex anunciou o In-Sight 1750, sistema de identificação de wafers e painéis para linhas de semicondutores, segundo publicação da Metrology News em 2 de outubro. A proposta é manter o rastreamento das peças mesmo quando as marcações estão degradadas ou o substrato dificulta a leitura.

O equipamento combina recursos de inteligência artificial, captura de imagem e iluminação específica para reconhecer essas identificações. Segundo a fabricante, leituras perdidas podem exigir intervenção do operador e interromper o fluxo de produção. A melhoria de leitura e de rastreabilidade é uma alegação da empresa, não um ganho quantificado no anúncio.

Para instalações que já usam o In-Sight 1740, a Cognex informa que o novo sistema aceita conversão de tarefas de leitura. A configuração é feita pela web, e o registro interno das leituras pode apoiar o controle de qualidade. O anúncio não informa taxa de acerto nem prazo de implantação.